Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii — TenderRadar

Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii

TED · 595572-2026Contract noticeCloses in 32 days · 2026-09-30

Buyer

CountryPL

Published2026-08-28

Deadline2026-09-30

Estimated—

Awarded—

38500000 Laboratory, optical & precision equipment

Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii.

Closest by meaning — across languages, via embeddings.

Published	Title	Buyer	Match
2026-08-10	Dostawa produktów promocyjnych dla Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT	Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej PL	90%
2026-08-27	Dostawa urządzenia do separacji podłoży półprzewodnikowych na struktury metodą cięcia laserem	Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej PL	90%
2026-06-29	Dostawa biurek oraz krzeseł biurowych dla Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT	Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej PL	89%
2026-05-19	Dostawa urządzeń sieciowych, serwerów oraz wsparcia i gwarancji do posiadanego wyposażenia dla Centrum Informatyzacji Politechniki Warszawskiej z podziałem na 4 części	POLITECHNIKA WARSZAWSKA PL	89%
2026-05-26	Dostawa elipsometru spektroskopowego z możliwością pomiaru pełnej macierzy Mullera dla Wydziału Chemii UW	Uniwersytet Warszawski PL	88%
2026-06-19	Dostawa wektorowego analizatora obwodów z opcjami pozwalającymi na rozszerzenie pasma pomiarowego dla Instytutu Radioelektroniki i Technik Multimedialnych	Politechnika Warszawska PL	88%